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  • A9000 FXnano-AD納米大顆粒計(jì)數(shù)器

    A9000 FXnano-AD納米大顆粒計(jì)數(shù)器的集聚光束光阻技術(shù)(Focused Light Obscuration)是在傳統(tǒng)單LE光阻傳感器的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了FXnano傳感器。雙傳感器同時(shí)運(yùn)行的情況下,檢測(cè)下限由原來(lái)的0.5μm下探至0.15μm,使得該儀器在大顆粒檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用更加的廣泛。 查看更多
  • A9000 FX-Nano納米大顆粒計(jì)數(shù)器

    納米大顆粒計(jì)數(shù)器集原樣進(jìn)樣檢測(cè)、自動(dòng)稀釋等全自動(dòng)檢測(cè)功能于一身,為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。FX系列可以測(cè)試計(jì)數(shù)到150nm,濃度高達(dá)10million個(gè)/mL的樣品??梢詽M足蛋白質(zhì)聚集和高濃度slurry的測(cè)試要求,是PSSZ全能性的顆粒計(jì)數(shù)器系列產(chǎn)品。 查看更多
  • AccuSizer 780 A2000 SIS美國(guó)PSS 顆粒計(jì)數(shù)器,不溶性微粒檢測(cè)儀

    納米粒度儀,顆粒計(jì)數(shù)器,不溶性微粒檢測(cè)儀,在線粒度檢測(cè)儀,高壓微射流均質(zhì)機(jī),Zeta電位與粒徑分析儀,大乳粒分析儀,粒度儀,激光粒度儀,納米激光粒度儀,美國(guó)PSS 顆粒計(jì)數(shù)器,不溶性微粒檢測(cè)儀 查看更多
  • BeNano 90 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

    BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。 查看更多
  • BeNano 180納米粒度儀

    BeNano 180 納米粒度儀是采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理,樣品分散在樣品池中,通過(guò)激光照射到樣品上,光電檢測(cè)器在背向 173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng),再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相曲線,結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù),進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果 查看更多
  • BeNano 180 Pro納米粒度分析儀

    BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 173°和經(jīng)典的 90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)各種濃度樣品的粒徑及粒徑分布,可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。雙角度結(jié)合測(cè)量兼顧高低濃度樣品,還具有檢測(cè)極微量樣品的能力。 查看更多
  • Bettersize3000Plus3000Plus激光粒度分析儀

    3000Plus激光粒度分析儀 ●非金屬粉:如重鈣、輕鈣、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。 ●金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。 ●粉體:河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛系?/span> 查看更多
  • Bettersize3000Bettersize激光/圖像粒度粒形分析儀

    Bettersize激光/圖像粒度粒形分析儀 ●非金屬粉:如重鈣、輕鈣、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。 ●金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。 ●粉體:河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛系?/span> 查看更多
  • Bettersize26002600激光粒度分析儀

    2600激光粒度分析儀領(lǐng)域: ●各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。 ●各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。 ●其它粉體:如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛系取?/span> 查看更多
  • Bettersize2000激光粒度分析儀

    Bettersize2000激光粒度分是一種采用雙鏡頭技術(shù)的一體化激光粒度儀。它的散射光發(fā)生與探測(cè)系統(tǒng)是由一個(gè)大功率光纖半導(dǎo)體激光器、樣品池、兩個(gè)高精度的進(jìn)口透鏡組和兩組光電探測(cè)器陣列組成。這種光學(xué)系統(tǒng)能在單光束狀態(tài)下使前向和后向散射光信號(hào)都能被同時(shí)有效接收,同時(shí)高精度透鏡組保證了即使是很微弱的散射光信號(hào)都能有效地匯聚到探測(cè)器上,使儀器的量程、重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力等主要指標(biāo)都達(dá)到了國(guó)際同類儀器水 查看更多
  • AccuSizer 780 A7000 SIS美國(guó)PSS 顆粒計(jì)數(shù)器

    美國(guó)PSS 顆粒計(jì)數(shù)器采用*的SPOS單顆粒技術(shù)和帶有的自動(dòng)稀釋,真實(shí)地測(cè)試出樣品尾端大粒子的粒度分布和顆粒濃度,具有超高的辨析率和快速測(cè)試能力。Z高計(jì)數(shù)達(dá)到E11個(gè)/mL, 從而確保各種分散體系的穩(wěn)定性和品質(zhì)。 查看更多
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